Comment comparer TEM et SEM

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Auteur: Laura McKinney
Date De Création: 4 Avril 2021
Date De Mise À Jour: 17 Novembre 2024
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Electron Microscopy (TEM and SEM)
Vidéo: Electron Microscopy (TEM and SEM)

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Le microscope électronique à transmission (TEM) et le microscope électronique à balayage (SEM) sont des méthodes microscopiques permettant de visualiser des échantillons extrêmement petits. TEM et SEM peuvent être comparés dans les méthodes de préparation des échantillons et les applications de chaque technologie.


TEM

Les deux types de microscopes électroniques bombardent le spécimen d'électrons. Le TEM est adapté à l'étude de l'intérieur d'objets. La coloration fournit un contraste et la coupe fournit des échantillons ultra minces pour l'examen. La TEM convient bien à l'examen des virus, des cellules et des tissus.

SEM

Les échantillons examinés par SEM nécessitent un revêtement conducteur tel que l'or-palladium, le carbone ou le platine pour collecter les électrons en excès qui obscurciraient l'image. Le SEM est bien adapté pour visualiser la surface d'objets tels que des agrégats macromoléculaires et des tissus.

Processus TEM

Un canon à électrons produit un flux d'électrons qui sont focalisés par une lentille de condensation. Le faisceau condensé et les électrons transmis sont focalisés par un objectif dans une image sur un écran d'image au phosphore. Les zones plus sombres de l'image indiquent que moins d'électrons ont été transmis et que ces zones sont plus épaisses.


Processus de SEM

Comme avec le TEM, un faisceau d'électrons est produit et condensé par une lentille. Ceci est un objectif de cours sur le SEM. Une deuxième lentille forme les électrons en un faisceau étroit et mince. Un ensemble de bobines balaye le faisceau de la même manière que la télévision. Une troisième lentille dirige le faisceau dans la section souhaitée de l'échantillon. Le faisceau peut demeurer sur un point spécifié. Le faisceau peut scanner l’échantillon entier 30 fois par seconde.