Contenu
XRF et XRD sont deux techniques de radiographie courantes. Chacune présente des avantages et des inconvénients par rapport à sa méthode spécifique de balayage et de mesure. Bien que ces techniques aient de nombreuses applications, les filtres XRF et XRD sont principalement utilisés dans les industries scientifiques pour la mesure de composés. Le type de composé et sa structure moléculaire désignent la technique la plus efficace.
Cristaux
La diffraction des rayons X sur poudre - ou DRX - est utilisée pour mesurer des composés cristallins et fournit une analyse quantitative et qualitative des composés qui ne peuvent pas être mesurés par d'autres moyens. En tirant un rayon X sur un composé, XRD peut mesurer la diffraction du faisceau provenant de différentes sections du composé. Cette mesure peut ensuite être utilisée pour comprendre la composition du composé au niveau atomique, car tous les composés diffractent le faisceau différemment. Les mesures de XRD montrent la composition structurelle, le contenu et la taille des structures cristallines.
Les métaux
La fluorescence des rayons X, ou XRF, est une technique utilisée pour mesurer le pourcentage de métaux dans les matrices inorganiques telles que le ciment et les alliages métalliques. XRF est un outil de recherche et développement particulièrement utile dans les industries de la construction. Cette technique est extrêmement utile pour déterminer la composition de ces matériaux, ce qui permet de développer des ciments et des alliages de meilleure qualité.
La vitesse
La XRF peut être effectuée assez rapidement. Une mesure XRF, qui mesure le métal dans l'échantillon donné, peut être configurée en moins d'une heure. L’analyse des résultats conserve également l’avantage d’être rapide, son développement ne prenant généralement que 10 à 30 minutes, ce qui contribue à l’utilité de la fonction XRF en recherche et développement.
Limites XRF
Étant donné que les mesures par XRF reposent sur la quantité, les mesures sont limitées. La limite quantitative normale est de 10 à 20 ppm (parties par million), généralement le minimum de particules nécessaire pour une lecture précise.
Les XRF ne peuvent pas non plus être utilisés pour déterminer la teneur en béryllium, ce qui constitue un inconvénient majeur lors de la mesure d’alliages ou d’autres matériaux susceptibles de contenir du béryllium.
XRD Limits
XRD a également des limites de taille. Il est beaucoup plus précis pour mesurer de grandes structures cristallines que de petites. Les petites structures qui ne sont présentes qu'à l'état de traces ne seront souvent pas détectées par les lectures de DRX, ce qui peut fausser les résultats.